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SNJ54BCT8374AFK
Numéro de pièce：
SNJ54BCT8374AFK
Classification des produits：
Circuits intégrés (CI)
Fabricant：
Texas Instruments
Description：
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
Emballage：
Statut ROHS：
Yes
La monnaie：
USD
PDF:
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Spécifications
  • Colis/Caisse
    28-CLCC
  • Type de montage
    Surface Mount
  • Nombre de bits
    8
  • Type logique
    Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
  • Température de fonctionnement
    -55°C ~ 125°C
  • Tension d'alimentation
    4.5V ~ 5.5V
  • Package d'appareil du fournisseur
    28-LCCC (11.43x11.43)
  • 924502482
  • 13620209915
  • 86 13620209915
  • elena-ys@aliyun.com

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